Ученые из России предложили новую методику изучения образцов опухолей мозга с помощью высокоразрешающего метода масс-спектрометрии вторичных ионов.
Эксперты предлагают применять этот метод для быстрой диагностики тканей опухоли и во время проведения операций. С помощью метода масс-спектрометрии вторичных ионов ученые изучали срезы глиобластом 57 пациентов. Такая методика анализа поверхности является одной из самых чувствительных.
Авторы работы считают, что полученные во время исследования данные можно использовать для выработки критериев клинической диагностики опухолевых заболеваний разными методами исследований.
